Name in English:
IEC 60749-7:2011
Name in Russian:
МЭК 60749-7:2011
Description in English:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Description in Russian:
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов