ASTM F110-00a PDF
Name in English:
St ASTM F110-00a
Name in Russian:
Ст ASTM F110-00a
Description in English:
Standard Test Method for Thickness of Epitaxial or Diffused Layers in Silicon by the Angle Lapping and Staining Technique (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F110-00a in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартный метод определения толщины эпитаксиальных или диффузионных слоёв в кремнии методом косого шлифа и окрашивания (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F110-00a в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
4
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm15006
More technical details are being prepared for this document.