ASTM F1392-02 PDF
Name in English:
St ASTM F1392-02
Name in Russian:
Ст ASTM F1392-02
Description in English:
Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1392-02 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартный метод определения профилей результирующей концентрации носителей заряда в кремниевых пластинах по вольт-фарадным измерениям с ртутным зондом (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F1392-02 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
14
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm15323
More technical details are being prepared for this document.