ASTM F1526-95 (2000) PDF
Name in English:
St ASTM F1526-95 (2000)
Name in Russian:
Ст ASTM F1526-95 (2000)
Description in English:
Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination on Silicon Wafers by Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1526-95 (2000) in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартный метод измерения загрязнения поверхности кремниевых пластин металлами методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии полного отражения (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F1526-95 (2000) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
7
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm15468
More technical details are being prepared for this document.