ASTM F1630-00 PDF
Name in English:
St ASTM F1630-00
Name in Russian:
Ст ASTM F1630-00
Description in English:
Standard Test Method for Low Temperature FT-IR Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1630-00 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартный метод низкотемпературного ИК-анализа с преобразованием Фурье монокристаллического кремния на примеси элементов III-V групп (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F1630-00 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
6
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm15580
More technical details are being prepared for this document.