ASTM F1727-02 PDF
Name in English:
St ASTM F1727-02
Name in Russian:
Ст ASTM F1727-02
Description in English:
Standard Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1727-02 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартная практика обнаружения дефектов, вызванных окислением, в полированных кремниевых пластинах (отменено в 2003 г.). Оригинальный стандарт ASTM F1727-02 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
3
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm15681
More technical details are being prepared for this document.