ASTM F1894-98 (2011) PDF
Name in English:
St ASTM F1894-98 (2011)
Name in Russian:
Ст ASTM F1894-98 (2011)
Description in English:
Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness (Withdrawn 2020). Original standard ASTM F1894-98 (2011) in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Метод количественного определения состава и толщины полупроводниковых технологических плёнок силицида вольфрама (отменён в 2020 году). Оригинальный стандарт ASTM F1894-98 (2011) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
7
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm15857
More technical details are being prepared for this document.