ASTM F673-02 PDF
Name in English:
St ASTM F673-02
Name in Russian:
Ст ASTM F673-02
Description in English:
Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F673-02 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартные методы измерения удельного сопротивления полупроводниковых пластин или поверхностного сопротивления полупроводниковых плёнок бесконтактным вихретоковым измерителем (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F673-02 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
6
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm17886
More technical details are being prepared for this document.