BS IEC 62047-35-2019 PDF
Name in English:
STB BS IEC 62047-35-2019
Name in Russian:
СТБ BS IEC 62047-35-2019
Description in English:
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electromechanical devices. Original standard BS IEC 62047-35-2019 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - Метод испытания электрических характеристик гибких электромеханических устройств при изгибной деформации. Оригинальный стандарт BS IEC 62047-35-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
24
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stbs30661
More technical details are being prepared for this document.