BS IEC 63068-4-2022 PDF
Name in English:
STB BS IEC 63068-4-2022
Name in Russian:
СТБ BS IEC 63068-4-2022
Description in English:
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using combined method of optical inspection and photoluminescence. Original standard BS IEC 63068-4-2022 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Неразрушающие критерии распознавания дефектов в гомоэпитаксиальной пластине карбида кремния для силовых приборов. Часть 4: Процедура идентификации и оценки дефектов с использованием комбинированного метода оптического контроля и фотолюминесценции. Оригинальный стандарт BS IEC 63068-4-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
28
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stbs30919
More technical details are being prepared for this document.