BS ISO 17331-2004 + A1-2010 PDF
Name in English:
STB BS ISO 17331-2004 + A1-2010
Name in Russian:
СТБ BS ISO 17331-2004 + A1-2010
Description in English:
Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy. Original standard BS ISO 17331-2004 + A1-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности. Химические методы сбора элементов с поверхности кремниевых пластин в качестве рабочих эталонных материалов и их определения методом рентгеновской флуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF). Оригинальный стандарт BS ISO 17331-2004 + A1-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
28
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stbs34108
More technical details are being prepared for this document.