BS ISO 22415-2019 PDF
Name in English:
STB BS ISO 22415-2019
Name in Russian:
СТБ BS ISO 22415-2019
Description in English:
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials. Original standard BS ISO 22415-2019 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод определения объема выхода при профилировании глубины органических материалов методом распыления кластерами аргона. Оригинальный стандарт BS ISO 22415-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
38
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stbs36265
More technical details are being prepared for this document.