ASTM F1535-00 PDF
Name in English:
St ASTM F1535-00
Name in Russian:
Ст ASTM F1535-00
Description in English:
Standard Test Method for Carrier Recombination Lifetime in Silicon Wafers by Noncontact Measurement of Photoconductivity Decay by Microwave Reflectance (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1535-00 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартный метод определения времени жизни носителей до рекомбинации в кремниевых пластинах бесконтактным измерением спада фотопроводимости по отражению микроволнового излучения (отменён в 2003 г.). Оригинальный стандарт ASTM F1535-00 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
12
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm15478
More technical details are being prepared for this document.