ASTM F1619-95 (2000)e1 PDF
Name in English:
St ASTM F1619-95 (2000)e1
Name in Russian:
Ст ASTM F1619-95 (2000)e1
Description in English:
Standard Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1619-95 (2000)e1 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартный метод измерения содержания межузельного кислорода в кремниевых пластинах методом инфракрасной абсорбционной спектроскопии с p-поляризованным излучением, падающим под углом Брюстера (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F1619-95 (2000)e1 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
7
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm15569
More technical details are being prepared for this document.