ASTM F1771-97 (2002) PDF
Name in English:
St ASTM F1771-97 (2002)
Name in Russian:
Ст ASTM F1771-97 (2002)
Description in English:
Standard Test Method for Evaluating Gate Oxide Integrity by Voltage Ramp Technique (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F1771-97 (2002) in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартный метод оценки целостности подзатворного оксида методом плавного повышения напряжения (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F1771-97 (2002) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
8
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm15729
More technical details are being prepared for this document.