ASTM F419-94 PDF
Name in English:
St ASTM F419-94
Name in Russian:
Ст ASTM F419-94
Description in English:
Test Method for Determining Carrier Density in Silicon Epitaxial Layers by Capacitance-Voltage Measurements on Fabricated Junction or Schottky Diodes (Withdrawn 2001). Original standard ASTM F419-94 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Метод определения концентрации носителей заряда в эпитаксиальных слоях кремния измерением вольт-фарадных характеристик изготовленных диодов с p-n-переходом или диодов Шоттки (отменён в 2001 году). Оригинальный стандарт ASTM F419-94 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
12
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm17621
More technical details are being prepared for this document.