ASTM F522-94 PDF
Name in English:
St ASTM F522-94
Name in Russian:
Ст ASTM F522-94
Description in English:
Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998). Original standard ASTM F522-94 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Метод определения плотности дефектов упаковки в эпитаксиальных слоях кремния методом интерференционно-контрастной микроскопии (отменён в 1998 году). Оригинальный стандарт ASTM F522-94 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by St ASTM F1810-97 (2002)
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
4
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm17728
More technical details are being prepared for this document.