ASTM F847-02 PDF
Name in English:
St ASTM F847-02
Name in Russian:
Ст ASTM F847-02
Description in English:
Standard Test Methods for Measuring Crystallographic Orientation of Flats on Single Crystal Silicon Wafers by X-Ray Techniques (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F847-02 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартные методы измерения кристаллографической ориентации базовых срезов монокристаллических кремниевых пластин рентгеновскими методами (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F847-02 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
8
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm18069
More technical details are being prepared for this document.