ASTM F928-02 PDF
Name in English:
St ASTM F928-02
Name in Russian:
Ст ASTM F928-02
Description in English:
Standard Test Methods for Edge Contour of Circular Semiconductor Wafers and Rigid Disk Substrates (Withdrawn 2003). Original standard ASTM F928-02 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартные методы определения контура кромки круглых полупроводниковых пластин и подложек жёстких дисков (отменён в 2003 году). Оригинальный стандарт ASTM F928-02 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
4
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm18162
More technical details are being prepared for this document.