ASTM F996-11 (2018) PDF
Name in English:
St ASTM F996-11 (2018)
Name in Russian:
Ст ASTM F996-11 (2018)
Description in English:
Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics (Withdrawn 2023). Original standard ASTM F996-11 (2018) in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартный метод разделения вызванного ионизирующим излучением сдвига порогового напряжения МОП-транзистора на составляющие от дырок, захваченных в оксиде, и поверхностных состояний с использованием подпороговых вольт-амперных характеристик (отменён в 2023 году). Оригинальный стандарт ASTM F996-11 (2018) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
7
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm18238
More technical details are being prepared for this document.