IEC 62047-18-2013 PDF
Name in English:
St IEC 62047-18-2013
Name in Russian:
Ст IEC 62047-18-2013
Description in English:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18- Bend testing methods of thin film materials. IEC 62047-18:2013. Original standard IEC 62047-18-2013 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 18- Методы испытания на изгиб тонкопленочных материалов. IEC 62047-18:2013. Оригинальный стандарт IEC 62047-18-2013 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
30
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec06314
More technical details are being prepared for this document.