BS IEC 62047-27-2017 PDF
Name in English:
STB BS IEC 62047-27-2017
Name in Russian:
СТБ BS IEC 62047-27-2017
Description in English:
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT). Original standard BS IEC 62047-27-2017 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - Испытание прочности сцепления для структур, склеенных стеклофитролями, с использованием микрошевронных тестов (МСТ). Оригинальный стандарт BS IEC 62047-27-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
20
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stbs30653
More technical details are being prepared for this document.