BS IEC 62047-45-2025 PDF
Name in English:
STB BS IEC 62047-45-2025
Name in Russian:
СТБ BS IEC 62047-45-2025
Description in English:
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of impact resistance of nanostructures. Original standard BS IEC 62047-45-2025 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения ударопрочности наноструктур. Оригинальный стандарт BS IEC 62047-45-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
18
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stbs30669
More technical details are being prepared for this document.