BS IEC 62373-1-2020 PDF
Name in English:
STB BS IEC 62373-1-2020
Name in Russian:
СТБ BS IEC 62373-1-2020
Description in English:
Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Fast BTI test for MOSFET. Original standard BS IEC 62373-1-2020 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы. Тест на стабильность при изменении напряжения и температуры для металлооксидных, полупроводниковых, полевых транзисторов (MOSFET) - Быстрый тест BTI для MOSFET. Оригинальный стандарт BS IEC 62373-1-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
26
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stbs30704
More technical details are being prepared for this document.