BS ISO 12406-2010 PDF
Name in English:
STB BS ISO 12406-2010
Name in Russian:
СТБ BS ISO 12406-2010
Description in English:
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon. Original standard BS ISO 12406-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод профилирования содержания мышьяка в кремнии по глубине. Оригинальный стандарт BS ISO 12406-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
24
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stbs32039
More technical details are being prepared for this document.