UNE-EN 60749-38-2008 PDF
Name in English:
STB UNE-EN 60749-38-2008
Name in Russian:
СТБ UNE-EN 60749-38-2008
Description in English:
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Soft error test method for semiconductor devices with memory. Original standard UNE-EN 60749-38-2008 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Метод тестирования программных ошибок для полупроводниковых приборов с памятью. Оригинальный стандарт UNE-EN 60749-38-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
16
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stune05867
More technical details are being prepared for this document.