ASTM E1162-26 PDF
Name in English:
St ASTM E1162-26
Name in Russian:
Ст ASTM E1162-26
Description in English:
Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). Original standard ASTM E1162-26 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартная практика представления данных профилирования по глубине распылением во вторично-ионной масс-спектрометрии (SIMS). Оригинальный стандарт ASTM E1162-26 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
4
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm28976
More technical details are being prepared for this document.