ASTM F416-94 PDF
Name in English:
St ASTM F416-94
Name in Russian:
Ст ASTM F416-94
Description in English:
Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998). Original standard ASTM F416-94 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Метод обнаружения дефектов, вызванных окислением, в полированных кремниевых пластинах (отменён в 1998 году). Оригинальный стандарт ASTM F416-94 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by St ASTM F1727-02
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
11
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stastm17618
More technical details are being prepared for this document.