IEEE Std C62.35-2010 PDF
Name in English:
St IEEE Std C62.35-2010
Name in Russian:
Ст IEEE Std C62.35-2010
Description in English:
IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components Original standard IEEE Std C62.35-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Стандартные методы испытаний IEEE полупроводниковых компонентов устройств защиты от импульсных перенапряжений с лавинным переходом Оригинальный стандарт IEEE Std C62.35-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by St IEEE Std C62.59-2019
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
26
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stieee002938
More technical details are being prepared for this document.