ISO 12406-2010 PDF
Name in English:
St ISO 12406-2010
Name in Russian:
Ст ISO 12406-2010
Description in English:
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth profiling of arsenic in silicon. Original standard ISO 12406-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности - Масс-спектрометрия вторичных ионов - Метод профилирования содержания мышьяка в кремнии по глубине. Оригинальный стандарт ISO 12406-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
20
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiso03015
More technical details are being prepared for this document.