ISO 14706-2014 PDF
Name in English:
St ISO 14706-2014
Name in Russian:
Ст ISO 14706-2014
Description in English:
Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy. Original standard ISO 14706-2014 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности - определение элементного загрязнения поверхности кремниевых пластин методом рентгеновской флуоресценции с полным отражением (TXRF). Оригинальный стандарт ISO 14706-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
32
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiso05148
More technical details are being prepared for this document.