ISO 16413-2020 PDF
Name in English:
St ISO 16413-2020
Name in Russian:
Ст ISO 16413-2020
Description in English:
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry - Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting. Original standard ISO 16413-2020 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Оценка толщины, плотности и ширины границы раздела тонких пленок методом рентгеновской рефлектометрии - требования к оборудованию, выравнивание и позиционирование, сбор данных, анализ данных и составление отчетов. Оригинальный стандарт ISO 16413-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
38
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiso06862
More technical details are being prepared for this document.