JIS K 0148-2005 PDF
Name in English:
St JIS K 0148-2005
Name in Russian:
Ст JIS K 0148-2005
Description in English:
Surface chemical analysis—Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy Original standard JIS K 0148-2005 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности. Определение элементного загрязнения поверхности кремниевых пластин методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии с полным внешним отражением (TXRF) Оригинальный стандарт JIS K 0148-2005 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by JIS K 0148-2026
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
31
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stjis003741
More technical details are being prepared for this document.